半导体激光器综合性能测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 文少剑; 廖东升 |
| 发表日期 | 2019-10-18 |
| 专利号 | CN209513218U |
| 著作权人 | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光器综合性能测试系统 |
| 英文摘要 | 一种半导体激光器综合性能测试系统，包括测试平台、光学模组、设置在测试平台上的功率检测组件、设置在测试平台上的光谱检测机构、及数据处理装置；光学模组包括设置在测试平台上的光学整形透镜、及与光学整形透镜对应的偏振分光器件；功率检测组件包括与偏振分光器件对应的第一功率计、第二功率计；第一功率计、第二功率计的功率检测值输出至数据处理装置；光谱检测机构包括设置在测试平台上的支架、连接支架的测试光纤、及连接测试光纤的光谱采集器；光谱采集器转换产生的光谱数据输出至数据处理装置；支架与光学模组对应设置；数据处理装置同时根据光谱数据而分析得出半导体激光器的波长特性，从而提高了对半导体激光器的测试效率。 |
| 公开日期 | 2019-10-18 |
| 申请日期 | 2019-02-15 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32196]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 文少剑,廖东升. 半导体激光器综合性能测试系统. CN209513218U. 2019-10-18. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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