光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 中井 賢也; 大牧 正幸 |
| 发表日期 | 2014-09-26 |
| 专利号 | JP5619184B2 |
| 著作权人 | 三菱電機株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法 |
| 英文摘要 | 光ディスク装置は、超解像再生が可能な光ディスク（６）を用いるものであり、半導体レーザ（１）と、半導体レーザ（１）に駆動電流を供給するレーザ駆動回路（２１）と、光ディスク（６）からの戻り光を検出して記録データの再生信号を得る受光素子（８）と、光ディスク６の情報記録層に形成される集光スポットのピーク強度を、超解像効果が得られるピーク強度以上に保つよう、レーザ駆動回路（２１）による半導体レーザ（１）の発光光量を制御する発光光量制御手段（２２）とを備える。発光光量制御手段（２２）は、想定されるディスクチルト角と、光ディスク（１）の光透過層の厚みに応じたコマ収差とから求められる、光ディスク（１）の情報記録層における集光スポットのピーク強度の低下率Ｄと、所定の再生性能が得られる発光光量の下限値（Ｐｌｄ＿Ｌ）とに基づいて、レーザ駆動回路（２１）による半導体レーザ（１）の発光光量を制御する。 |
| 公开日期 | 2014-09-26 |
| 申请日期 | 2012-01-06 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32952]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三菱電機株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 中井 賢也,大牧 正幸. 光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法. JP5619184B2. 2014-09-26. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。