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半導体レーザ装置

文献类型:专利

作者河西 秀典; 森本 泰司; 兼岩 進治; 林 寛; 宮内 伸幸; 矢野 盛規; 塩本 武弘; 佐々木 和明; 松本 晃広; 近藤 正樹
发表日期2000-11-17
专利号JP3129973B2
著作权人シャープ株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体レーザ装置
英文摘要【課題】 高出力動作における半導体レーザ装置の場合には、表面準位に起因する発熱によって、端面の劣化が生じるという深刻な問題があった。この端面の劣化によって、半導体レーザの信頼性が損なわれる問題があった。特に、端面劣化の原因としては、光出射端面における酸化物に起因する表面準位によるものであり、これを抑制することによって高信頼性の半導体レーザが得られる。 【構成】 Alを含む活性層を有し、端面に保護膜が形成されている端面出射型の半導体レーザであって、該端面と該保護膜との間に、硫黄を含む膜を有する半導体レーザを提供する。
公开日期2001-01-31
申请日期1990-02-02
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33348]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位シャープ株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
河西 秀典,森本 泰司,兼岩 進治,等. 半導体レーザ装置. JP3129973B2. 2000-11-17.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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