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受発光素子とこれを用いた光学ピックアップ

文献类型:专利

作者松尾 憲雅; 遊馬 嘉人; 豊田 清; 池田 直人; 西 紀彰; 植田 充紀; 斉藤 公博; 森本 忠司
发表日期2003-06-13
专利号JP3438482B2
著作权人ソニー株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名受発光素子とこれを用いた光学ピックアップ
英文摘要【課題】 レーザダイオードの発光光量を検出するためのモニタ用光検出器を備え、低コストで小型の受発光素子とこれを利用した光学ピックアップ及び光ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 レーザダイオード17より発せられたレーザ光を光ディスクに向けて反射する光路分岐面18aを有するプリズム18は、レーザ光を反射するために必要な領域よりも半導体基板15側の部分が面取り部18bとなされている。レーザダイオード17より発せられ面取り部18bにより反射された光束は、半導体基板15の表面上に形成されたモニタ用光検出器27により受光される。
公开日期2003-08-18
申请日期1996-08-16
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33538]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ソニー株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
松尾 憲雅,遊馬 嘉人,豊田 清,等. 受発光素子とこれを用いた光学ピックアップ. JP3438482B2. 2003-06-13.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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