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半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置

文献类型:专利

作者田中 清嗣
发表日期2012-02-17
专利号JP4924857B2
著作权人ソニー株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置
英文摘要【課題】 水平基準が出ていない面上でも部品の高さ情報を検出することができ、他の部品との相互位置を正し、正しく部品を配置することが可能な半導体装置の実現を課題とする。 【解決手段】 半導体素子11を形成する半導体基板の表面および裏面の所定の位置にこの半導体基板を透過可能な波長の光を反射する光反射部13を設け、この光反射部13からの反射光を検出することによって、その厚み、高さ位置情報および姿勢情報を得るようにする。
公开日期2012-04-25
申请日期2001-01-29
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33718]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ソニー株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
田中 清嗣. 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置. JP4924857B2. 2012-02-17.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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