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半導体素子の製造方法

文献类型:专利

作者琵琶 剛志; 奥山 浩之; 土居 正人; 大畑 豊治
发表日期2007-06-15
专利号JP3969029B2
著作权人ソニー株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体素子の製造方法
英文摘要【課題】 成長基板上の窒化物系化合物半導層を素子に分離する際に、下地成長層を成長基板とともに分離することができ、第一導電層に裏面から電極を効率良く形成することができる半導体素子及び半導体素子の製造方法を提供することを目的とする【解決手段】 基板上に形成される下地成長層より小さいバンドギャップエネルギーの半導体を用いて第一導電層を形成すると、これらのバンドギャップエネルギーの間にエネルギー値を有するレーザ光を照射すると、下地成長層と第一導電層との第一導電層側界面においてアブレーションが生じ、選択成長により形成された半導体成長層は基板及び下地成長層から分離されると同時に素子毎に分離され、結晶性が良く電極形成に適した第一導電層に効率良く裏面から電極を形成することができる。
公开日期2007-08-29
申请日期2001-08-03
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33749]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ソニー株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
琵琶 剛志,奥山 浩之,土居 正人,等. 半導体素子の製造方法. JP3969029B2. 2007-06-15.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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