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半導体レーザ装置およびそれを用いた光ディスク装置

文献类型:专利

作者山本 圭; 大林 健
发表日期2008-09-12
专利号JP4185716B2
著作权人シャープ株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体レーザ装置およびそれを用いた光ディスク装置
英文摘要【課題】Alフリーで且つΔEgの大きさに因らずに特性を向上させる。 【解決手段】活性領域をDQW構造とし、P組成が0.2よりも大きく且つ0.75よりも小さく、井戸層の歪量(=基板の歪量)との差が-0.65%よりも大きいGaAsPあるいはInGaAsPでバリア層を構成し、GaAs基板と格子整合したInGaAsPで井戸層を構成する。従来の場合のInGaPバリア層に比べ、GaAs基板に対するEvの差|ΔEv0|を小さく設定できる。したがって、ガイド層からの井戸層へのホールの注入の効率が大幅に改善される。さらに、バリア層と井戸層との間のΔEcを0.12eV以上に設定でき、井戸層からの電子のオーバーフローを抑制できる。こうして、井戸層とバリア層とのΔEgは小さいにも拘わらず、InGaPバリア層に比較して素子特性を著しく向上できる。 【選択図】 図2
公开日期2008-11-26
申请日期2002-07-01
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33807]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位シャープ株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
山本 圭,大林 健. 半導体レーザ装置およびそれを用いた光ディスク装置. JP4185716B2. 2008-09-12.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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