雷射照射方法,雷射照射裝置,及製造半導體裝置的方法
文献类型:专利
作者 | 田中幸一郎; 森若智昭 |
发表日期 | 2007-04-11 |
专利号 | TWI279052B |
著作权人 | 半導體能源研究所股份有限公司 |
国家 | 中国台湾 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 雷射照射方法,雷射照射裝置,及製造半導體裝置的方法 |
英文摘要 | 利用位於被照射表面緊鄰的細縫,清除或減小雷射的衰減區,致使在雷射光端部獲得陡峭的能量分佈。細縫被置於被照射表面緊鄰的理由是為了抑制雷射光的擴展。此外,利用平面鏡代替細縫來折疊雷射光的衰減區,以便相互提高衰減區中的能量密度,致使在雷射光端部中獲得陡峭的能量密度分佈。 |
公开日期 | 2007-04-11 |
申请日期 | 2002-08-08 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33810] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 半導體能源研究所股份有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 田中幸一郎,森若智昭. 雷射照射方法,雷射照射裝置,及製造半導體裝置的方法. TWI279052B. 2007-04-11. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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