光部品特性測定システム
文献类型：专利
| 作者 | 吉田 正紀; 渡邉 誠治 |
| 发表日期 | 2000-09-08 |
| 专利号 | JP3107027B2 |
| 著作权人 | 日本電気株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 光部品特性測定システム |
| 英文摘要 | 【課題】 光部品特性測定システムにおいて、そのシステムを構成している光部品の偏光依存性損失に影響されずに安定した高精度な光部品特性の測定を行うことができる光部品特性測定システムを提供すること。 【解決手段】 互いに異なる波長を有する信号光を出力する分布帰還型レーザダイオード101〜108と、それらに対応して出力光を適時オン·オフする光スイッチ111〜118と光カプラ12で直線偏波の多波長光源を構成する。この多波長光源からの出力光を偏波スクランブラ30によりランダムに偏光状態を変えてDUT19への試験信号光となるようにした。DUT19からの出力光パワーは光スペクトラムアナライザ23で測定すると、全偏光状態の損失状態を含むことになるため、この測定結果を平均処理することによって、測定システムを構成する偏光依存性損失に影響されない安定した高精度な測定を行うことができるようになる。 |
| 公开日期 | 2000-11-06 |
| 申请日期 | 1997-12-25 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34461]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日本電気株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吉田 正紀,渡邉 誠治. 光部品特性測定システム. JP3107027B2. 2000-09-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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