変調歪測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 山田 博仁 |
| 发表日期 | 1999-04-02 |
| 专利号 | JP2907140B2 |
| 著作权人 | 日本電気株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 変調歪測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 従来の直流駆動状態での微分電流-光出力曲線の形状から変調歪を測定する方法では、実際の変調歪の値と相関の強い有効なデータは得られない。マトリクスジェネレータを用いた従来の測定装置は、大掛かりで非常に高価であり、また測定に長時間かかる。 【解決手段】 LD15は直流バイアス電流に重畳されたRF信号により駆動されて発光する。その出射レーザ光は、PD22により受光されて電気信号に変換される。LD15に印加するRF信号レベルは一定にして、DC電源23から供給する直流バイアス電流の値を連続的に変化させながら、LD15の出射光に含まれるRF信号成分の電力をスペクトラムアナライザ24により検出してX-Yレコーダ25にプロットすることにより、そのRF信号周波数での微分I-L波形が得られる。 |
| 公开日期 | 1999-06-21 |
| 申请日期 | 1996-08-23 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34567]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日本電気株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 山田 博仁. 変調歪測定装置. JP2907140B2. 1999-04-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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