半導体レーザ素子のスクリーニング方法
文献类型：专利
| 作者 | 鴫原 君男 |
| 发表日期 | 2007-03-02 |
| 专利号 | JP3923192B2 |
| 著作权人 | 三菱電機株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半導体レーザ素子のスクリーニング方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 初期劣化素子のみならず突然劣化素子をも取り除く半導体レーザ素子のスクリーニング方法を提供する。 【解決手段】 半導体レーザ素子に、交互に高温状態と低温状態とに保持する熱サイクルを与え、かつ駆動電流を通電してスクリーニングを行う。 |
| 公开日期 | 2007-05-30 |
| 申请日期 | 1998-09-02 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34576]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三菱電機株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 鴫原 君男. 半導体レーザ素子のスクリーニング方法. JP3923192B2. 2007-03-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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