测量用激光装置
文献类型：专利
| 作者 | 大友文夫; 小泉浩; 籾内正幸; 大石政裕; 后藤义明 |
| 发表日期 | 2003-09-17 |
| 专利号 | CN1121740C |
| 著作权人 | 株式会社拓普康 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 测量用激光装置 |
| 英文摘要 | 一种测量用激光装置，它具备激光光源部和将从该激光光源部来的激光光线按规定方向照射的光学系统，把上述激光光源部设置成至少与光学系统热隔离并用光纤将上述激光光源部的激光光线引导到上述光学系统，由于使激光光源部或至少光源部的发热部与光学系统隔离，因此光学系统不受激光光源部热的影响，能够防止由热而引起的精度降低，并可以使测量用激光装置维持高精度。 |
| 公开日期 | 2003-09-17 |
| 申请日期 | 1996-08-16 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34608]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社拓普康 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 大友文夫,小泉浩,籾内正幸,等. 测量用激光装置. CN1121740C. 2003-09-17. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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