中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung

文献类型:专利

作者MITSHUHASHI,YOSHINOBU; NAKAMURA YUKINOBU; SAKURAI KENJIRO; SHIMADA,JUNICHI
发表日期1985-05-30
专利号DE3131233C2
著作权人HONDA GIKEN KOGYO K.K.
国家德国
文献子类授权发明
其他题名Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung
英文摘要Bei einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung mit einem Halbleiter-Laserelement und einem ringförmigen Oszillator wird ein Schwebungssignal, das von dem Frequenzunterschied zweier entgegengesetzt umlaufender Strahlen bei Drehung der Vorrichtung herrührt, als Veränderung derKlemmenspannung des Halbleiter-Laserelementes ermittelt.
公开日期1985-05-30
申请日期1981-08-06
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34724]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位HONDA GIKEN KOGYO K.K.
推荐引用方式
GB/T 7714
MITSHUHASHI,YOSHINOBU,NAKAMURA YUKINOBU,SAKURAI KENJIRO,et al. Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung. DE3131233C2. 1985-05-30.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。