デバイスモジュール
文献类型：专利
| 作者 | 清水 春仁 |
| 发表日期 | 1997-07-04 |
| 专利号 | JP2669309B2 |
| 著作权人 | 日本電気株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | デバイスモジュール |
| 英文摘要 | 【目的】 使用環境温度の変化に起因する測定誤差等を補償できるデバイス温度制御方法を提供する。使用環境温度の変化に起因する出力特性の変動を補償できるデバイスモジュールを提供する。 【構成】 部品実装済のパッケージ12を被測定機器とする。測定検査では半導体レーザ16がレーザ光を射出する。外部検査装置がペルチェクーラ19の駆動電流を調整する。レーザ光が基準波長をとる。レーザ検出温度を記録する。異なる使用環境温度で測定検査が行われる。検査記録から使用環境温度およびレーザ検出温度の相関関係が標定される。標定結果から関数情報が定まる。制御装置22はサーミスタ20,21から検出温度を取得する。関数情報を使用して温度偏差を生成する。温度偏差と制御目標温度を加算してレーザ目標温度を得る。レーザ目標温度TS とレーザ検出温度TD とを用いて定温度制御演算を行う。 |
| 公开日期 | 1997-10-27 |
| 申请日期 | 1993-11-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/35031]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日本電気株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 清水 春仁. デバイスモジュール. JP2669309B2. 1997-07-04. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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