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半導体装置及びその製造方法

文献类型:专利

作者副島 ▲玲▼子
发表日期2007-06-08
专利号JP3965610B2
著作权人富士通株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体装置及びその製造方法
英文摘要【課題】 半導体装置及びその製造方法に関し、p型Alx Iny Ga1-x-y Nに設ける電極の剥離を防止する。 【解決手段】 半導体層1に接するNi層2と、ボンディングメタル層としてのAu層4との間にTi層3を介在させる。
公开日期2007-08-29
申请日期1997-08-01
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/35198]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
副島 ▲玲▼子. 半導体装置及びその製造方法. JP3965610B2. 2007-06-08.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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