半導体レーザの特性測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 清水 研一 |
| 发表日期 | 2007-12-28 |
| 专利号 | JP4061009B2 |
| 著作权人 | 株式会社リコー |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半導体レーザの特性測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 電流-光出力特性やカップリング効率を精度よく測定できる半導体レーザの特性測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明の測定装置は、単体の半導体レーザ4又は半導体レーザユニット5を測定対象として取付け可能な測定ヘッド1と、測定ヘッド1に取付けた測定対象からの出射光を受光する受光素子2と、受光素子2を出射光の光軸に交わる方向からその光軸上の測定位置へ進退させる受光ステージ3と、を有し、上記光軸方向における測定対象と受光素子との相対的な位置関係を可変にする光軸方向変位手段8を備えた構成である。 |
| 公开日期 | 2008-03-12 |
| 申请日期 | 2000-04-24 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/35346]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社リコー |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 清水 研一. 半導体レーザの特性測定装置. JP4061009B2. 2007-12-28. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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