一种半导体激光器光束质量测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 李军; 席道明; 陈云; 马永坤; 吕艳钊; 魏皓 |
| 发表日期 | 2019-05-21 |
| 专利号 | CN208887783U |
| 著作权人 | 江苏天元激光科技有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器光束质量测试装置 |
| 英文摘要 | 一种半导体激光器光束质量测试装置，其特征在于：所述的激光夹具（10）用于固定半导体激光器的尾纤，光阑（20）置于激光夹具（10）后合适位置，光阑（20）上的通光孔径对传输激光进行控制；功率接收器（30）置于光阑（20）后，探测经光阑（20）输出的激光功率值；滑轨（40）用于控制光阑（20）水平位置的移动，电脑控制端（50）采集光阑（20）的前后移动，由功率接收器（30）探测到的功率值并进行分析对比，实现高光束质量激光器的筛选。本实用新型，有利于实现高光束质量的半导体激光器的筛选，具有调试方便，测试效率高等优点。该测试装置有利于实现客户对高光束质量的半导体激光器一致性的需求。 |
| 公开日期 | 2019-05-21 |
| 申请日期 | 2018-10-24 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38506]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏天元激光科技有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李军,席道明,陈云,等. 一种半导体激光器光束质量测试装置. CN208887783U. 2019-05-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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