半导体激光器老化试验装置
文献类型：专利
| 作者 | 于渤; 闫方亮; 董鹏; 周德金 |
| 发表日期 | 2019-06-25 |
| 专利号 | CN209028151U |
| 著作权人 | 北京聚睿众邦科技有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光器老化试验装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型涉及半导体激光器技术领域，尤其是涉及一种半导体激光器老化试验装置。半导体激光器老化试验装置包括：气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板；电路板设置在气流罩的开口端，定位件设置在气流罩的内部，加热件设置在定位件的远离电路板的一端，加热件远离定位件的一端用于安放被测器件，温度传感和加热件均与电路板电连接；温度传感器用于检测被测器件的温度信息，并将被测器件的温度信息传递给电路板，电路板根据被测器件的温度信息控制加热件的发热量，以使被测器件达到预设的温度。从而精确的控制被测器件试验时的温度。以缓解现有技术中存在无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控的技术问题。 |
| 公开日期 | 2019-06-25 |
| 申请日期 | 2018-10-30 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38657]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 北京聚睿众邦科技有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于渤,闫方亮,董鹏,等. 半导体激光器老化试验装置. CN209028151U. 2019-06-25. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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