一种在线监测半导体激光器退化的方法
文献类型：专利
| 作者 | 杨鹏; 王贵山; 邱静; 刘冠军; 吕克洪; 张勇 |
| 发表日期 | 2019-10-08 |
| 专利号 | CN108521293B |
| 著作权人 | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种在线监测半导体激光器退化的方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种在线监测半导体激光器退化的方法，目的是提供一种既能判断LD是否发生退化，又能判断LD的具体退化模式的方法。技术方案是构建由监测模块和诊断模块组成的LD退化监测系统，监测模块监测LD的工作参数即偏置电流、发射光功率和调制电流；诊断模块由数据收集子模块、参数计算子模块、诊断评估子模块构成，根据LD的工作参数计算可以判断LD退化模式的表征参数——阈值电流Ith和斜率效率k，并基于LD阈值电流和斜率效率诊断LD退化模式。采用本发明既能判断LD是否发生退化，又能判断LD的具体退化模式，且其采用的LD退化监测系统结构简单，易于实现。 |
| 公开日期 | 2019-10-08 |
| 申请日期 | 2018-04-04 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38945]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨鹏,王贵山,邱静,等. 一种在线监测半导体激光器退化的方法. CN108521293B. 2019-10-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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