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光半導体素子

文献类型:专利

作者北村 光弘
发表日期1996-09-05
专利号JP2555983B2
著作权人日本電気株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名光半導体素子
英文摘要【目的】 MQW活性層内のキャリア分布を均一化し、それによって高性能な光半導体素子、すなわちしきい値電流が低く、高温動作特性に優れた半導体レーザ、高い利得を有する半導体光アンプなどを提供すること。 【構成】 埋め込み構造のMQW活性層3に積層方向に対して垂直な方向のみならず、横方向からも有効質量の大きなホールを注入できるように、MQW活性層に隣接してクラッド層4と量子井戸層との中間のバンドギャップエネルギーを有する第2のクラッド層5を形成した。これによってMQW活性層中でのキャリアの不均一注入の問題を大幅に緩和することができ、従ってMQWの本来の高い利得特性が引き出されることによって、しきい値電流、高温動作特性が大幅に改善された高性能な半導体レーザを実現できた。
公开日期1996-11-20
申请日期1994-06-21
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39554]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
北村 光弘. 光半導体素子. JP2555983B2. 1996-09-05.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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