半导体激光器光电及偏振特性测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 袁治远; 刘晖; 孙翔; 王昊; 李希; 刘兴胜
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| 发表日期 | 2015-07-29 |
| 专利号 | CN303306759S |
| 著作权人 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 外观设计 |
| 其他题名 | 半导体激光器光电及偏振特性测试系统 |
| 英文摘要 | 本外观设计产品的名称：半导体激光器光电及偏振特性测试系统。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于半导体激光器LIV（光强-电流-电压）特性和偏振特性测试。3．本外观设计产品的设计要点：结构。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 |
| 公开日期 | 2015-07-29 |
| 申请日期 | 2015-02-10 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39840]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 袁治远,刘晖,孙翔,等. 半导体激光器光电及偏振特性测试系统. CN303306759S. 2015-07-29. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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