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一种测试夹具

文献类型:专利

作者张岩; 彭海涛; 杨红伟; 张世祖; 齐利芳
发表日期2015-05-27
专利号CN204359829U
著作权人中国电子科技集团公司第十三研究所
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种测试夹具
英文摘要本实用新型涉及半导体激光器芯片生产加工领域,具体公开了一种测试夹具,包括载台、盖板、挡板、滑轨、压块和绝缘软垫,待测试芯片置于盖板上,一侧与挡板接触,实现限位,盖板和挡板与载台固定连接;待测试芯片的上方设有压块,压块置于滑轨内并可上下活动,压块的下端设有绝缘软垫,绝缘软垫在与待测试芯片上电极接触的部位设有第一导电膜,盖板与待测试芯片的下电极接触的部位设有第二导电膜,第一导电膜和第二导电膜分别通过导线与测试仪连接。本实用新型还包括压紧机构,通过螺栓调节压力,第一导电膜与绝缘软垫之间设有压力传感器,通过压力传感器的读值调节测试压力。本装置不需频繁更换测试探针,提高测试效率,对测试芯片电极无损伤。
公开日期2015-05-27
申请日期2015-01-29
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39874]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国电子科技集团公司第十三研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张岩,彭海涛,杨红伟,等. 一种测试夹具. CN204359829U. 2015-05-27.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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