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一种非破坏性垂直腔面发射激光器电流限制孔径测定装置

文献类型:专利

作者徐晨; 周康; 解意洋; 赵振波; 刘发; 沈光地
发表日期2011-08-03
专利号CN201917324U
著作权人北京工业大学
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种非破坏性垂直腔面发射激光器电流限制孔径测定装置
英文摘要本实用新型公开了一种非破坏性垂直腔面发射激光器电流限制孔径测定装置,该改装置由探针台,直流电源,显微镜,光学衰减片,CCD探测器和计算机组成。本实用新型利用激光器激射前的荧光光斑的形状来测定电流限制孔径的形状大小,可测量任意波段面发射激光器电流限制孔径。本装置测量误差为1μm,具有搭配简单,非破坏性测量,片上测试,实体测量等优点,并且在刻蚀光子晶体或者分布孔结构后可观测氧化孔与光子晶体缺陷孔之间的位置关系。
公开日期2011-08-03
申请日期2010-10-22
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40200]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位北京工业大学
推荐引用方式
GB/T 7714
徐晨,周康,解意洋,等. 一种非破坏性垂直腔面发射激光器电流限制孔径测定装置. CN201917324U. 2011-08-03.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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