一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法
文献类型：专利
| 作者 | 孙素娟; 苏建; 李沛旭; 汤庆敏; 郑兆河; 肖成峰 |
| 发表日期 | 2018-01-02 |
| 专利号 | CN104638510B |
| 著作权人 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化装置及方法，该装置包括：一固定在基座支架上的夹具主体，该夹具主体有冷却水道、负极接入孔、凹槽、半圆形凹槽、定位槽；一滑动压块，该滑动压块底部粘有一尺寸与之相同的绝缘陶瓷片，滑动压块有两螺丝定位孔、正极接入孔及方孔；凹槽下臂的定位槽用于放置、固定堆栈小单元，滑动压块位于凹槽上方，利用塑料螺丝通过夹具主体上壁上的定位孔将滑动压块与堆栈小单元紧密连接；连通冷却水，连接正负极进行测试、老化。本发明操作简单，散热较好，利用本装置可实现堆栈小单元在工作电流条件下的性能测试及老化。 |
| 公开日期 | 2018-01-02 |
| 申请日期 | 2013-11-14 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40303]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙素娟,苏建,李沛旭,等. 一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法. CN104638510B. 2018-01-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。