一种半导体激光器老化测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 于果蕾; 马崇彩; 邵慧慧; 刘成成; 孙素娟; 姚爽; 郑兆河; 肖成峰 |
| 发表日期 | 2018-03-23 |
| 专利号 | CN207133392U |
| 著作权人 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器老化测试装置 |
| 英文摘要 | 一种半导体激光器老化测试装置，包括：底座、N个凹槽、支撑板、电路板以及压合机构。由于电路板通过支撑板上的压合机构与COS芯片接触，因此减少了电路中的电阻值，确保电流稳定，使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻，对电路造成分压，且由于接触不实可能造成电路不稳，损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。 |
| 公开日期 | 2018-03-23 |
| 申请日期 | 2017-08-31 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40565]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于果蕾,马崇彩,邵慧慧,等. 一种半导体激光器老化测试装置. CN207133392U. 2018-03-23. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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