一种VCSEL的多参数测试装置及方法
文献类型:专利
作者 | 石凡; 杨仁福; 年丰; 张升康; 崔永顺; 张振伟; 赵环; 王暖让; 冯克明 |
发表日期 | 2018-04-17 |
专利号 | CN104297598B |
著作权人 | 北京无线电计量测试研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 一种VCSEL的多参数测试装置及方法 |
英文摘要 | 本发明公开一种VCSEL的多参数测试装置及方法,该装置及方法包括:可调电流源给VCSEL供电、准直透镜接收VCSEL的发散激光并输出平行光束、消偏振分光镜接收平行光束并分别输出第一和第二光束、聚焦透镜将第一光束聚焦为聚焦光束、光纤探头接收聚焦光束并输出测试信号至光纤光谱仪测量光谱参数、偏振分光镜将第二光束分光,分别输出水平线偏振光束和垂直线偏振光束至第一、第二光电探测器并分别测量光强,分别记录以上两个光强首次不为零时可调电流源的电流为水平和垂直偏振模式的阈值。本发明所述技术方案,解决了对VCSEL的多参数高效测试的问题,可同时测量VCSEL的光谱参数、水平偏振模式的阈值和垂直偏振模式的阈值。 |
公开日期 | 2018-04-17 |
申请日期 | 2014-10-20 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40709] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 北京无线电计量测试研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 石凡,杨仁福,年丰,等. 一种VCSEL的多参数测试装置及方法. CN104297598B. 2018-04-17. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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