一种高频高线性摆镜检测系统
文献类型：专利
| 作者 | 吴李宗; 张德祥; 王锦华; 陈轩 |
| 发表日期 | 2018-06-19 |
| 专利号 | CN207515998U |
| 著作权人 | 扬州莱达光电技术有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种高频高线性摆镜检测系统 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开了一种高频高线性摆镜检测系统，包括光学平台、测试设备和控制系统，测试设备包括设置在光学平台上方的扫描器动态轨迹测量光路、扫描器过零检测电路、半导体激光光源、四通道虚拟示波器和操作显示台，所述扫描器动态轨迹测量光路包括带二维调节机构激光平行光管和轨迹接收系统，所述扫描器动态轨迹测量光路包括自准直行光管和二维微调工作台，所述半导体激光光源经光纤输出作为带二维调节机构激光平行光管和自准直平行光管的激光光源，所述四通道虚拟示波器用于连接两路PSD的Vx、Vy信号。本实用新型所提供的高线性摆镜检测系统，整机结构紧凑，且操作方便，安全性好，可以适应于外界各种干扰，检测精确性高。 |
| 公开日期 | 2018-06-19 |
| 申请日期 | 2017-11-10 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40952]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 扬州莱达光电技术有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴李宗,张德祥,王锦华,等. 一种高频高线性摆镜检测系统. CN207515998U. 2018-06-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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