一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置
文献类型：专利
| 作者 | 邹文龙; 李朝明; 陈新荣; 蔡志坚; 吴建宏 |
| 发表日期 | 2018-06-19 |
| 专利号 | CN207515999U |
| 著作权人 | 苏州大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开了一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置，包括半导体激光器、斩波器、检测光系统、参考光系统和光电探测装置，装置的核心功能：采用多个波长的半导体激光器入射到金属介质膜光栅表面，检测光系统采集‑1级衍射光，并通过二维扫描大面积金属介质膜光栅，完成整个光栅面的衍射效率的测量。本新装置采用了双光路检测和斩波器，抑制激光器功率漂移和环境背景光干扰。 |
| 公开日期 | 2018-06-19 |
| 申请日期 | 2017-11-27 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40954]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 苏州大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹文龙,李朝明,陈新荣,等. 一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置. CN207515999U. 2018-06-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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