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一种半导体激光器芯片固晶检验装置

文献类型:专利

作者孙希政; 汤庆敏; 刘存志; 肖成峰; 郑兆河
发表日期2018-07-20
专利号CN207636466U
著作权人山东华光光电子股份有限公司
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种半导体激光器芯片固晶检验装置
英文摘要一种半导体激光器芯片固晶检验装置,包括:基座、滑座、凹槽以及安装于基座上且位于滑座前端的芯片固定座。需要检测激光器芯片的固晶牢固度时,先将激光器芯片放置到芯片固定座上的卡槽中,之后将滑座向芯片固定座方向滑动,使芯片固定座的前端插入凹槽内后使卡尺将卡槽上的激光器芯片压紧固定。之后使用测力计对芯片进行剥离即可测量出激光器芯片固晶的牢固度。提高检验效率,由于激光器芯片始终被卡尺压紧,因此减少芯片剥离时的丢失,减少损耗,芯片固晶牢固度检验过程更加可靠,提高检验结果的准确率。
公开日期2018-07-20
申请日期2018-01-02
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41098]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位山东华光光电子股份有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
孙希政,汤庆敏,刘存志,等. 一种半导体激光器芯片固晶检验装置. CN207636466U. 2018-07-20.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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