一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置
文献类型：专利
| 作者 | 孙正和 |
| 发表日期 | 2017-01-11 |
| 专利号 | CN205881282U |
| 著作权人 | 杭州大华仪器制造有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型为一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，包括小型半导体激光器、激光器套管、光电管进光口、光澜圆盘，光电管进光口之前设有可以改变孔径的光澜圆盘，光澜圆盘在圆周上分布有多个不同孔径的孔光澜，光澜圆盘绕圆盘中心转动可以使光澜圆盘上不同的孔光澜对应到光电管进光口的位置；所述光澜圆盘之前设置有激光器套管，激光器套管固定在套管固定圆盘上，激光器套管的底端设有通光孔，小型半导体激光器插入激光器套管内，套管固定圆盘绕圆盘中心转动可以使小型半导体激光器对应在电管进光口位置。为物理实验教学提供一种精确度高、光源波长种类不受限制、光强度可调、有更接近截止频率的单色光等优点的装置。 |
| 公开日期 | 2017-01-11 |
| 申请日期 | 2016-04-18 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41247]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 杭州大华仪器制造有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙正和. 一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置. CN205881282U. 2017-01-11. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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