半导体激光测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 胡海; 夏虹; 赵楚中; 刘文斌; 李成鹏 |
| 发表日期 | 2015-01-28 |
| 专利号 | CN204128985U |
| 著作权人 | 深圳清华大学研究院 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光测试装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供一种半导体激光测试装置，其包括一个用于承载一个样品的导体载物台、一个电源、一个正对该导体载物台设置的光学系统及与该光学系统光学耦合的一个激光光源、一个成像装置及一个光谱仪。该电源包括一个阳极探针及一个阴极探针，该电源用于通过该阳极探针及该阴极探针向该样品输出一个工作电压以使该样品电致发光(EL)。该激光光源用于发射激光，该激光通过该光学系统投射在该样品上以使该样品光致发光(PL)；该成像系统用于通过该光学系统对EL或PL的该样品成像；该光谱仪用于通过该光学系统测量该样品EL或PL的波长。 |
| 公开日期 | 2015-01-28 |
| 申请日期 | 2014-07-10 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41532]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳清华大学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,夏虹,赵楚中,等. 半导体激光测试装置. CN204128985U. 2015-01-28. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。