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半導体層の結晶成長方法

文献类型:专利

作者小倉 基次; 萬濃 正也
发表日期1997-10-03
专利号JP2702889B2
著作权人松下電器産業株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名半導体層の結晶成長方法
英文摘要【目的】 結晶品質の高い半導体層を成長させる方法を提供する。 【構成】 成長室1のサセプタ2上に基板3をセットし、基板を500℃に加熱する。水素ボンベ5、DMZnボンベ6、DMSeボンベ7、DMSボンベ8、Cp2Mgボンベ9から流量制御計10〜15を用いて適切な混合比率に調節された原料ガスを成長室1へ導入する。流量制御計15及び17を調節し、成長室内の圧力を5kg/cm2に保ちながら原料ガスを基板近傍で分解させ、Zn0.9Mg0.1S0.1Se0.9を基板3上にエピタキシャル成長させる。
公开日期1998-01-26
申请日期1994-12-22
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42163]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
小倉 基次,萬濃 正也. 半導体層の結晶成長方法. JP2702889B2. 1997-10-03.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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