一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统
文献类型：专利
| 作者 | 常恒泰; 常军; 刘永宁; 王福鹏; 刘晓慧 |
| 发表日期 | 2014-06-04 |
| 专利号 | CN203630031U |
| 著作权人 | 山东大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统 |
| 英文摘要 | 一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统，属光纤传感检测技术领域，包括分布反馈半导体激光器、光开关等，分布反馈半导体激光器接正向使用1*2光开关的输入端；正向使用1*2光开关的一路经气室和逆向使用1*2光开关的一输出端相接，另一路输出端经单模光纤和逆向使用1*2光开关的另一输出端相接；逆向使用1*2光开关的输入端接到光电探测器，光电探测器连接数据采集卡，数据采集卡和计算机相接；激光器驱动模块和温度控制模块分别连接分布反馈半导体激光器；两个光开关的控制端分别与计算机相连。本实用新型在使用时可消除器件和激光器内部残余待测气体对检测结果的影响，能提高检测准确度和精度；系统结构简单，成本低，操作方便。 |
| 公开日期 | 2014-06-04 |
| 申请日期 | 2013-12-10 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42741]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 山东大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 常恒泰,常军,刘永宁,等. 一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统. CN203630031U. 2014-06-04. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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