半导体激光器参数测量装置
文献类型：专利
| 作者 | 左昉; 苏美开; 胡仁喜; 张建勇 |
| 发表日期 | 2008-02-27 |
| 专利号 | CN100371725C |
| 著作权人 | 左昉 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半导体激光器参数测量装置 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种半导体激光器参数测量装置，属于半导体激光器测试仪器领域。包括：激光器驱动器，与激光器相连；激光器温度控制系统，与激光器支架相连；自动装卡电机，与激光器支架相连；积分球，与待测激光器相连；探测器，与积分球、待测激光器和单色仪相连；单色仪，与积分球、数据采集控制器相连；远场测试电机，与探测器相连；前置放大器，与数据采集控制器相连；数据采集控制器，与计算机相连；)计算机，与数据采集控制器相连。本发明的测量装置，可对半导体激光器的各种特性参数进行测量，例如光电特性、伏安特性、光谱特性、远场特性和热特性等，而且测量过程自动连续，方便大规模测量应用。 |
| 公开日期 | 2008-02-27 |
| 申请日期 | 2005-11-25 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42747]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 左昉 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 左昉,苏美开,胡仁喜,等. 半导体激光器参数测量装置. CN100371725C. 2008-02-27. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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