多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法
文献类型：专利
| ; ; ; ; ; ; ; | |
| 作者 | 饶瑞中 ; 邵士勇; 朱文越
|
| 发表日期 | 2007 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 101055241 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院 |
| 公开日期 | 2013-01-10 |
| 申请日期 | 2007 |
| 专利申请号 | 200710022257.7 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/9673]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 饶瑞中,邵士勇,朱文越. 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法, 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法. 101055241. 2007-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。