一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法
文献类型：专利
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| 作者 | 刘文清 ; 刘建国; 董云升; 谢品华; 张天舒; 张玉钧; 赵南京
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| 发表日期 | 2011 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 102183442A |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2013-01-11 |
| 申请日期 | 2011 |
| 专利申请号 | 201110040548.5 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/9779]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘文清,刘建国,董云升,等. 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法, 一种基于大气细粒子谱仪的能见度测量方法. 102183442A. 2011-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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