大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法
文献类型：专利
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| 作者 | 刘文清 ; 张玉钧
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| 发表日期 | 2011 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 102128814A |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2013-01-18 |
| 申请日期 | 2010 |
| 专利申请号 | 201010580650.X |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/10007]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘文清,张玉钧. 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法, 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法. 102128814A. 2011-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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