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氧化物分子束外延技术及其在关联材料电子态研究中的应用

文献类型:期刊论文

作者封东来 ; 沈大伟 ; 徐海超 ; 彭瑞
刊名物理
出版日期2012
期号4页码:211-216
关键词氧化物异质结构 关联材料 氧化物分子束外延 角分辨光电子能谱
ISSN号0379-4148
中文摘要氧化物分子束外延薄膜和异质结生长技术近年来迅速发展,人们已实现以单原子层的精度来精确生长多种复杂量子材料,有力地推动了铜氧化物高温超导电性、二维电子气、氧化物电子学和自旋电子学器件等领域的研究.文章介绍了氧化物分子束外延的技术关键,并以La1-xSrxMnO3薄膜为例,介绍了钙钛矿结构的氧化物薄膜生长和刻画.特别是文章作者通过建立超高真空下的原位样品传送系统,可把薄膜样品直接传送到角分辨光电子能谱仪中,实现了薄膜的原位电子结构测量.所测得的La1-xSrxMnO3的电子结构与能带计算结果较为相符.而此类立方结构的、不可解理材料的电子结构,过去往往是无法直接测量的.
收录类别CNKI2012-041
语种中文
公开日期2013-02-22
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/110925]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
封东来,沈大伟,徐海超,等. 氧化物分子束外延技术及其在关联材料电子态研究中的应用[J]. 物理,2012(4):211-216.
APA 封东来,沈大伟,徐海超,&彭瑞.(2012).氧化物分子束外延技术及其在关联材料电子态研究中的应用.物理(4),211-216.
MLA 封东来,et al."氧化物分子束外延技术及其在关联材料电子态研究中的应用".物理 .4(2012):211-216.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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