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基于SCR的SOI ESD保护器件研究

文献类型:期刊论文

作者夏超 ; 王中健 ; 何大伟 ; 徐大伟 ; 张有为 ; 程新红 ; 俞跃辉
刊名功能材料与器件学报
出版日期2012
期号1页码:17-22
关键词SOI ESD SCR Sentaurus 保护器件
ISSN号1007-4252
中文摘要本文具体分析了体硅SCR(晶闸管)和SOI SCR的抗静电特性,利用软件Sentaurus对埋氧层3μm,顶层硅1.5μm的SOI衬底上的SCR进行了工艺和性能仿真,仿真结果达到了4.5kV的抗静电能力,符合目前人体模型的标准2KV。研究发现,注入剂量(9*13-8*14cm-2)增加会引起触发电压减小,维持电压升高;Trench长度(0.8-1.1μm)增加,器件触发电压几乎不变,维持电压降低;场氧化层长度(2-4.5μm)增加,触发电压和维持电压均增加。
收录类别CNKI2012-044
语种中文
公开日期2013-02-22
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/111000]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
夏超,王中健,何大伟,等. 基于SCR的SOI ESD保护器件研究[J]. 功能材料与器件学报,2012(1):17-22.
APA 夏超.,王中健.,何大伟.,徐大伟.,张有为.,...&俞跃辉.(2012).基于SCR的SOI ESD保护器件研究.功能材料与器件学报(1),17-22.
MLA 夏超,et al."基于SCR的SOI ESD保护器件研究".功能材料与器件学报 .1(2012):17-22.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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