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低温玻璃浆料圆片级真空封装的研究

文献类型:期刊论文

作者王伟 ; 熊斌 ; 王跃林 ; 马颖蕾
刊名传感器与微系统
出版日期2012
期号1页码:62-64
关键词微机电系统 玻璃浆料封装 加速度计 真空封装
ISSN号1000-9787
中文摘要研究了玻璃浆料在低温下真空封装MEMS器件的工艺。封装过程中,采用了丝网印刷技术,丝网的线宽设计为100μm,印刷后玻璃浆料线宽为160μm左右,从而能够减小封装器件的尺寸,节省成本;另外,对玻璃浆料键合工艺做了研究,找到了较好的工艺条件,采用该工艺(预烧结温度425℃,键合温度430℃),得到的封装结构具有较高的封接强度(剪切力>20 kgf)和良好的真空度,测得的漏率为10-9 cm3/s。
收录类别CNKI2012-038
语种中文
公开日期2013-02-22
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/111023]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
王伟,熊斌,王跃林,等. 低温玻璃浆料圆片级真空封装的研究[J]. 传感器与微系统,2012(1):62-64.
APA 王伟,熊斌,王跃林,&马颖蕾.(2012).低温玻璃浆料圆片级真空封装的研究.传感器与微系统(1),62-64.
MLA 王伟,et al."低温玻璃浆料圆片级真空封装的研究".传感器与微系统 .1(2012):62-64.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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