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材料分析中合理使用各种试验研究方法(续)

文献类型:期刊论文

作者杨传铮
刊名理化检验(物理分册)
出版日期2012
期号5页码:345-349
关键词电子能谱仪:4158 光电子能谱:4103 同步辐射:3421 射线吸收:3055 光子能量:2966 原子:2877 电子能量:2747 化学位移:2731 外层电子:2566 壳层电子:2476
ISSN号1001-4012
中文摘要3.2.2 Auger电子能谱及应用3.2.2.1 Auger电子能谱当高能电子束或X射线激发样品时,原子内壳层上电子因电离而留下一个空位,由较外层电子向这一能级跃迁使原子释放能量的过程,发射特征X射线;另一种弛豫过程是:A壳层电子电离产生空位,壳层电子向壳层的空位跃迁,导致壳层
收录类别CNKI2012-089
语种中文
公开日期2013-02-22
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/111030]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
杨传铮. 材料分析中合理使用各种试验研究方法(续)[J]. 理化检验(物理分册),2012(5):345-349.
APA 杨传铮.(2012).材料分析中合理使用各种试验研究方法(续).理化检验(物理分册)(5),345-349.
MLA 杨传铮."材料分析中合理使用各种试验研究方法(续)".理化检验(物理分册) .5(2012):345-349.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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