Biaxial stress-induced giant bandgap shift in BiFeO3 epitaxial films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Fu, Z ; Yin, ZG ; Chen, NF ; Zhang, XW ; Zhang, H ; Bai, YM ; Wu, JL |
| 刊名 | physica status solidi-rapid research letters
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| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 6期号:1页码:37-39 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-03-17 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23719]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Fu, Z,Yin, ZG,Chen, NF,et al. Biaxial stress-induced giant bandgap shift in BiFeO3 epitaxial films[J]. physica status solidi-rapid research letters,2012,6(1):37-39. |
| APA | Fu, Z.,Yin, ZG.,Chen, NF.,Zhang, XW.,Zhang, H.,...&Wu, JL.(2012).Biaxial stress-induced giant bandgap shift in BiFeO3 epitaxial films.physica status solidi-rapid research letters,6(1),37-39. |
| MLA | Fu, Z,et al."Biaxial stress-induced giant bandgap shift in BiFeO3 epitaxial films".physica status solidi-rapid research letters 6.1(2012):37-39. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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