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Polarization-induced remote interfacial charge scattering in Al2O3/AlGaN/GaN double heterojunction high electron mobility transistors

文献类型:期刊论文

作者Ji, D ; Liu, B ; Lu, YW ; Liu, GP ; Zhu, QS ; Wang, ZG
刊名applied physics letters
出版日期2012
卷号100期号:13页码:132105
学科主题半导体物理
收录类别SCI
语种英语
公开日期2013-03-20
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23742]  
专题半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
Ji, D,Liu, B,Lu, YW,et al. Polarization-induced remote interfacial charge scattering in Al2O3/AlGaN/GaN double heterojunction high electron mobility transistors[J]. applied physics letters,2012,100(13):132105.
APA Ji, D,Liu, B,Lu, YW,Liu, GP,Zhu, QS,&Wang, ZG.(2012).Polarization-induced remote interfacial charge scattering in Al2O3/AlGaN/GaN double heterojunction high electron mobility transistors.applied physics letters,100(13),132105.
MLA Ji, D,et al."Polarization-induced remote interfacial charge scattering in Al2O3/AlGaN/GaN double heterojunction high electron mobility transistors".applied physics letters 100.13(2012):132105.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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