Novel Method for Frequency Response Measurement of Optoelectronic Devices
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wu, XM ; Man, JW ; Xie, L ; Liu, Y ; Qi, XQ ; Wang, LX ; Liu, JG ; Zhu, NH |
| 刊名 | ieee photonics technology letters
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| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 24期号:7页码:575-577 |
| 学科主题 | 光电子学 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-03-17 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23668]  |
| 专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wu, XM,Man, JW,Xie, L,et al. Novel Method for Frequency Response Measurement of Optoelectronic Devices[J]. ieee photonics technology letters,2012,24(7):575-577. |
| APA | Wu, XM.,Man, JW.,Xie, L.,Liu, Y.,Qi, XQ.,...&Zhu, NH.(2012).Novel Method for Frequency Response Measurement of Optoelectronic Devices.ieee photonics technology letters,24(7),575-577. |
| MLA | Wu, XM,et al."Novel Method for Frequency Response Measurement of Optoelectronic Devices".ieee photonics technology letters 24.7(2012):575-577. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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