Effects of Surface Roughness of Capillary Wall on the Profile of Thin LiquidFilm and Evaporation Heat Transfer
文献类型:期刊论文
作者 | Qu Wei ; Ma Tongze |
刊名 | JOURNAL OF THERMAL SCIENCE
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出版日期 | 2001 |
卷号 | 10期号:3页码:240246 |
关键词 | periodic microrelief roughness angle roughness height. |
公开日期 | 2013-03-12 |
源URL | [http://ir.etp.ac.cn/handle/311046/53715] ![]() |
专题 | 工程热物理研究所_Journal of Thermal Science_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Qu Wei,Ma Tongze. Effects of Surface Roughness of Capillary Wall on the Profile of Thin LiquidFilm and Evaporation Heat Transfer[J]. JOURNAL OF THERMAL SCIENCE,2001,10(3):240246. |
APA | Qu Wei,&Ma Tongze.(2001).Effects of Surface Roughness of Capillary Wall on the Profile of Thin LiquidFilm and Evaporation Heat Transfer.JOURNAL OF THERMAL SCIENCE,10(3),240246. |
MLA | Qu Wei,et al."Effects of Surface Roughness of Capillary Wall on the Profile of Thin LiquidFilm and Evaporation Heat Transfer".JOURNAL OF THERMAL SCIENCE 10.3(2001):240246. |
入库方式: OAI收割
来源:工程热物理研究所
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