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新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展

文献类型:期刊论文

作者白以龙; 赵亚溥; 赵亚溥; 赵亚溥; 汪海英; 刘胜; 汪海英
刊名机械强度
出版日期2002-09-30
卷号24期号:3页码:315-319
通讯作者邮箱kyuan@imech.ac.cn
关键词微电子封装 可控坍塌芯片连接技术 芯下材料 力学性能 可靠性
通讯作者汪海英
中文摘要可控坍塌芯片连接 (C4)技术可以实现高速、高密度、小外形的封装 ,因此日渐得到关注和发展。然而 ,随着C4技术的普及 ,C4封装内由于芯片和基板间热膨胀系数 (CTE)的不匹配而引起的可靠性问题将日益突出 ,为此研究者在C4封装中引入芯下材料来提高C4封装的可靠性。文中侧重于制造工艺、可靠性以及最新进展对C4技术进行介绍 ,并且对C4技术中所用的芯下材料的力学性能及其对C4封装可靠性影响的研究现状进行评述
语种中文
公开日期2009-08-03 ; 2010-08-20
源URL[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/41278]  
专题力学研究所_力学所知识产出(1956-2008)
通讯作者汪海英; 汪海英
推荐引用方式
GB/T 7714
白以龙,赵亚溥,赵亚溥,等. 新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展[J]. 机械强度,2002,24(3):315-319.
APA 白以龙.,赵亚溥.,赵亚溥.,赵亚溥.,汪海英.,...&汪海英.(2002).新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展.机械强度,24(3),315-319.
MLA 白以龙,et al."新型可控坍塌芯片连接技术(C4)及芯下材料力学性能研究进展".机械强度 24.3(2002):315-319.

入库方式: OAI收割

来源:力学研究所

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