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GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响(英文)

文献类型:期刊论文

作者陈一仁; 李志明; 蒋红; 黎大兵; 宋航; 孙晓娟; 缪国庆
刊名发光学报
出版日期2012-10-15
期号10页码:1089-1094
关键词AlN GaN缓冲层 晶体结构 晶粒尺寸
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27272]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
陈一仁,李志明,蒋红,等. GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响(英文)[J]. 发光学报,2012(10):1089-1094.
APA 陈一仁.,李志明.,蒋红.,黎大兵.,宋航.,...&缪国庆.(2012).GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响(英文).发光学报(10),1089-1094.
MLA 陈一仁,et al."GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响(英文)".发光学报 .10(2012):1089-1094.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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