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大孔径空间探测系统的缺陷分布分析

文献类型:期刊论文

作者王忠生 ; 李昆 ; 张学军
刊名传感器与微系统
出版日期2012-01-20
期号01页码:42-44
关键词空间 光学成像探测 局部缺陷 调制传递函数 截止频率
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27396]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
王忠生,李昆,张学军. 大孔径空间探测系统的缺陷分布分析[J]. 传感器与微系统,2012(01):42-44.
APA 王忠生,李昆,&张学军.(2012).大孔径空间探测系统的缺陷分布分析.传感器与微系统(01),42-44.
MLA 王忠生,et al."大孔径空间探测系统的缺陷分布分析".传感器与微系统 .01(2012):42-44.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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