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高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法

文献类型:期刊论文

作者马庆军
刊名硅谷
出版日期2012-10-08
期号19页码:30-32
关键词成像光谱仪 辐射定标 定标范围 暗电流
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27527]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
马庆军. 高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法[J]. 硅谷,2012(19):30-32.
APA 马庆军.(2012).高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法.硅谷(19),30-32.
MLA 马庆军."高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法".硅谷 .19(2012):30-32.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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