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全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律

文献类型:期刊论文

作者韩建 ; 巴音贺希格 ; 李文昊 ; 孔鹏
刊名光学学报
出版日期2012-03-10
期号03页码:9-15
关键词光栅 曝光量 条纹对比度 占宽比 槽深
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27992]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
韩建,巴音贺希格,李文昊,等. 全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律[J]. 光学学报,2012(03):9-15.
APA 韩建,巴音贺希格,李文昊,&孔鹏.(2012).全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律.光学学报(03),9-15.
MLA 韩建,et al."全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律".光学学报 .03(2012):9-15.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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